HAST試驗箱半導體集成電路高應力可靠性測試是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件（如IC芯片、PCB、連接器）和材料在惡劣環境下的潛在缺陷，如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等，從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-800 | 瀏覽量：312 |
| 更新時間：2026-01-05 | 是否能訂做：是 |
本HAST（高加速應力測試）試驗箱是專為半導體集成電路、封裝、功率器件等電子元器件設計的可靠性測試設備。它通過精確控制高溫、高濕、高壓的非飽和蒸汽環境，在實驗室條件下極速模擬并加速長期使用中可能出現的潮濕失效、腐蝕、離子遷移等故障，將長達數年的自然老化過程縮短至數百小時內，是產品研發、質量認證與失效分析的核心工具。
精準的控制能力：采用非飽和蒸汽控制技術，實現對溫度、濕度、壓力的高精度獨立控制與實時監控，確保測試條件嚴格符合標準要求，測試結果具備很高的復現性與可比性。
高應力加速測試效率：在遠高于常規恒溫恒濕試驗（如85℃/85% RH）的應力條件下運行，能快速激發潛在缺陷，顯著縮短產品可靠性驗證周期，助力企業搶占市場先機。
安全與可靠性設計：配備多重安全防護（超壓、超溫、漏電、缺水等自動保護），關鍵部件采用耐腐蝕材料與強化結構，確保設備在長期高應力測試下的穩定運行與操作安全。
廣泛的行業標準兼容性：設備設計嚴格遵循半導體行業主流可靠性測試標準，確保測試數據在國際供應鏈及客戶群中獲得廣泛認可與信任。
靈活的多模式測試：支持非飽和（常用）、飽和及干濕球等多種控制模式，一機多用，可滿足從標準HAST到無偏壓HAST（UHAST）乃至高壓蒸煮（PCT）等不同測試協議的需求。
參數類別 | 規格描述 | 備注與說明 |
溫度范圍 | +105℃ ~ +155℃ | 常用測試溫度為 110℃, 130℃, 145℃ |
濕度范圍 | 50% ~ 95% RH（非飽和，可調） | 部分型號支持 65%-100% RH，可設定飽和測試模式 |
壓力范圍 | 0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表壓） | 約合 0.2 至 6 kg/cm2，滿足不同嚴苛等級的測試要求 |
控制精度 | 溫度: ±0.5℃；濕度: ±2.5% ~ ±3% RH | 確保測試條件的嚴苛穩定性，保障數據準確性 |
控制模式 | 干濕球控制 / 非飽和蒸汽 / 飽和蒸汽 | 可根據測試標準（如JESD22-A110與A118）靈活切換 |
內箱材質 | 高級不銹鋼（SUS304或以上） | 耐腐蝕性，保證長期測試的潔凈度與設備壽命 |
HAST試驗箱半導體集成電路高應力可靠性測試
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